PHI nanoTOF 3 Time-of-Flight SIMS

Spectrometrul de masă MS/MS Parallel Imaging patentat de PHI oferă o sensibilitate superioară, un fundal spectral scăzut, o capacitate unică de a realiza imagstică inclusiv pe suprafețe cu topografie pronunțată, identificarea masei cu rezoluție ridicată și identificarea fără ambiguitate a peak-urilor, cu capacitatea de imagistică MS în tandem paralel. PHI nanoTOF 3 poate fi configurat cu o mare varietate de opțiuni pentru a optimiza performanța pentru materiale organice, materiale anorganice sau ambele, în funcție de cerințele clientului.

Instrumentul este complet personalizabil pentru a răspunde tuturor nevoilor analitice.

Suită de soluții specializate pentru caracterizarea in situ a materialelor avansate:

• Toate modurile de operare sunt disponibile pentru analiză automată fără a fi necesară supravegherea experimentului
• Analiză crio- și la temperatură înaltă prin opțiunile Încălzire/Răcire și Temperatură înaltă; mișcarea completă a probei pe 5 axe este menținută în timpul analizei cu temperatură controlată
• Imagistică 3D avansată, prin utilizarea fasciculelor opționale cu ioni de Ar, O₂, Cs, C₆₀, Ar cluster și Ga-FIB
• Experimente de electrochimie solid-state (polarizare, polarizare) cu opțiunea Static Voltage & Power Cycling
• Opțiuni pentru Transfer probă în mediu inert și adaptor pentru sistemul de transfer (puck AES/XPS de 25 mm).

Analiză chimică și moleculară precisă, inclusiv pentru probe curbate, rugoase sau cu încărcare electrostatică (izolatoare)

• Spectrometrul de masă are acceptanța unghiulară și adâncimea de câmp ridicate
• Imagistică chimică fără artefacte a probelor secționate cu FIB ex situ și in situ
• Imagistică superioară a materialelor prin corectarea potențialului de suprafață dependent de poziție
• Extracția întârziată (DE) nu este necesară, astfel încât artefactele DE sunt complet evitate

TOF-DR 3.0 este cea mai recentă versiune a software-ului PHI pentru tratarea, procesarea, prezentarea și raportarea datelor de imagistică în tandem MS TOF-SIMS.	Integrated tandem mass spectrometers, i.e., Parallel Imaging MS/MS, pentru colectarea fără pierderi a datelor TOF-SIMS (MS1) și tandem MS (MS2), cu keV-CID pentru identificarea fără ambiguități a peak-urilor și analiză structurală de înaltă acuratețe.	Imagine 3D FIB-TOF ale unei celule de combustibil cu oxid solid, cu un volum de analiză de 50 x 50 x 10 µm. Se observă inclusiv golurile din structură.

• Imagistică superioară cu Analizor Parallel MS/MS
• Imagistică Paralelă MS/MS
• REZOLUȚIE SPAȚIALĂ ÎNALTĂ CU REZOLUȚIE DE MASĂ ÎNALTĂ
• Surse de ioni ”CLUSTER SOURCE ION GUN” disponibile
• Imagistică chimică FIB-TOF 3D

Link Producator