Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics - PHI
- Microscoape electronice Hitachi
- Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
- Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
- Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS ~ Physical Electronics – PHI
- Spectroscopie Confocală RAMAN
- Microscoape de forță atomică AFM
- Microscoape TEM Compacte și TableTop
- Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
- Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
- Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
- RMN pentru Controlul Calității
- RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
- Bio-Imprimante 3D
Physical Electronics (PHI) este o filială a ULVAC-PHI, principalul furnizor mondial de instrumente de analiză UHV a suprafețelor, utilizate pentru cercetarea și dezvoltarea de materiale avansate în domenii de înaltă tehnologie, inclusiv: nanotehnologie, microelectronică, medii de stocare, bio-medicale, și materiale de bază, cum ar fi metale, polimeri și straturi subțiri. Tehnologiile inovatoare XPS, AES și SIMS ale PHI oferă clienților noștrii instrumente unice pentru a rezolva probleme provocatoare în domeniul materialelor și pentru accelerarea dezovoltării de noi materiale și produse.
- X-ray Photoelectron Spectroscopy ( XPS/ESCA), UPS, LEIPS
- Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
- Auger Electron Spectroscopy (AES)
- Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
-
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics - PHI
PHI Genesis – Scanning XPS/HAXPES Microprobe
Read more -
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics - PHI
PHI nanoTOF 3 Time-of-Flight SIMS
Read more