FIB - Dual and Triple Focused Ion Beam
- Microscoape electronice Hitachi
- Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
- Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
- Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS ~ Physical Electronics – PHI
- Spectroscopie Confocală RAMAN
- Microscoape de forță atomică AFM
- Microscoape TEM Compacte și TableTop
- Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
- Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
- Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
- RMN pentru Controlul Calității
- RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
- Bio-Imprimante 3D
-
FIB - Dual and Triple Focused Ion Beam
FIB-SEM-Ar(Xe) Dual & Triple beam Hitachi ETHOS NX5000
Read more