Skip to content
Products search
+40 721 221 781
mircea_armenean@nanoteam.ro
Acasă
Produse
Microscoape electronice Hitachi
Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics – PHI
Spectroscopie Confocală RAMAN
Microscoape de forță atomică AFM
Microscoape TEM Compacte și TableTop
Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
RMN pentru Controlul Calității
RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
Bio-Imprimante 3D
Parteneri
Evenimente
Suport clienți
Noutăți / Webinarii
Despre noi
Contact
Meniu
Acasă
Produse
Microscoape electronice Hitachi
Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics – PHI
Spectroscopie Confocală RAMAN
Microscoape de forță atomică AFM
Microscoape TEM Compacte și TableTop
Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
RMN pentru Controlul Calității
RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
Bio-Imprimante 3D
Parteneri
Evenimente
Suport clienți
Noutăți / Webinarii
Despre noi
Contact
Products search
Acasă
Produse
Microscoape electronice Hitachi
Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics – PHI
Spectroscopie Confocală RAMAN
Microscoape de forță atomică AFM
Microscoape TEM Compacte și TableTop
Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
RMN pentru Controlul Calității
RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
Bio-Imprimante 3D
Parteneri
Evenimente
Suport clienți
Noutăți / Webinarii
Despre noi
Contact
Meniu
Acasă
Produse
Microscoape electronice Hitachi
Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS Physical Electronics – PHI
Spectroscopie Confocală RAMAN
Microscoape de forță atomică AFM
Microscoape TEM Compacte și TableTop
Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
RMN pentru Controlul Calității
RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
Bio-Imprimante 3D
Parteneri
Evenimente
Suport clienți
Noutăți / Webinarii
Despre noi
Contact
FE-SEM Cold Field Emission
Microscoape electronice Hitachi
Microscoape electronice cu scanare – SEM
FE-SEM Cold Field Emission
FE-SEM Schottky
SEM Tungsten
SEM TableTop
FIB – Dual and Triple Focused Ion Beam
Microscoape electronice cu transmisie – TEM/STEM
Sisteme Hitachi pentru pregatire probe
Analiză termică Hitachi DSC, STA/TGA, TMA și DMA
Scanning XPS, Auger, ToF-SIMS ~ Physical Electronics – PHI
Spectroscopie Confocală RAMAN
Microscoape de forță atomică AFM
Microscoape TEM Compacte și TableTop
Spectroscopie IR cu rezoluție sub 5 nm – Molecular Vista
Sisteme Flow Chemistry Vapourtec
Spectroscopie RMN Multi-Nucleu Oxford Instruments
RMN pentru Controlul Calității
RMN pentru Geologie – Rock Core Analysis
Bio-Imprimante 3D
Humberger Toggle Menu
FE-SEM Cold Field Emission
UHR In-Lens Cold FE-SEM/STEM Hitachi SU9000
Citește mai mult
FE-SEM Cold Field Emission
UHR Semi In-Lens Cold FE-SEM Hitachi SU8600
Citește mai mult
