PHI Genesis – Scanning XPS/HAXPES Microprobe

• PHI Genesis este cea mai recentă generație a liniei de produse XPS multi-tehnică de mare succes a PHI, cu sursa de raze X de scanare, monocromatică și microfocalată, patentată de PHI.
• Este un sistem ușor de utilizat, complet automatizat, cu reglare și calibrare automată și mai multe poziții de parcare probe pentru un randament ridicat.
• Platforma multitehnică complet integrată a PHI Genesis oferă o gamă largă de surse opționale de excitație, surse de ioni pentru sputtering și capabilități de tratare și transfer a probelor.
• PHI Genesis oferă o sensibilități și randamente ridicate atât pentru suprafețe mari cât și pentru zone mici, de până la 5 µm și profile în adâncime nedistructiv , folosind sursa opțională hard X-ray Cr source.

Instrumentul este complet personalizabil pentru a răspunde tuturor nevoilor analitice.

Suită de soluții specializate pentru caracterizarea in situ a materialelor avansate:

• Structura de benzi electronice a materialelor organice și anorganice utilizând măsurători UPS, LEIPS, REELS în aceeași locație pe probă
• Experimente electrochimice (polarizare, studii de polarizare).
• Sistem de transfer probe în mediu inert
• Spectroscopie Auger de înaltă energie și rezoluție spațială, complet integrată, cu cartografiere elementară la locația exactă de interes ca și maparea XPS

XPS, UPS, LEIPS și REEL colocalizate În PHI Genesis, pentru LEIPS și UPS, fasciculele de ioni de Argon și GCIB și fasciculele de neutralizare sunt toate aliniate la poziția de măsurare XPS. Acest lucru permite evaluarea cuprinzătoare a materialelor semiconductoare organice.	Hard X-Ray Source – pentru profile în adâncime Sursa de raze X-Cr are o energie a fotonilor de 5414,8 eV și asigură adâncimi de analiză de aproximativ 3 ori mai mari decât cele obținute folosind o sursă de raze X-Al.

Analiza superioară a micro-zonelor

• Cea mai ridicată sensibilitate ”small-area” de pe piață
• Dimensiunea microsondei <5 microni în x și y pentru sursa de raze X Al și <14 microni pentru sursa de raze X Cr
• Înregistrarea imaginii pentru analiza automată nesupravegheată a micro-zonelor

Link Producator