Schottky Analytical FE-SEM Hitachi SU5000
FE-SEM Analitic AUTOMATIZAT, cu tranziție rapidă între modurile Vacuum Înalt – Presiune Variabilă pentru materiale izolatoare, Ideal pentru BIO-Aplicații în combinație cu Gatan 3View și Delmic SECOM
- Soluții adaptate
- Parteneri de prestigiu
- Expertiză tehnică și științifică
Hitachi SU5000 VP FE-SEM este un microscop analitic cu tranziție extrem de simplă și rapidă între modurile vacuum înalt și VP pentru materiale neconductoare. Sistemul EM Wizard implementat în acest model asigură obținerea automată de imagini de înaltă calitate, automatizarea trecând mult dincolo de auto-focus sau auto-contrast. După ce utilizatorul oferă câteva caracteristici ale probei, sistemul se configurează automat astfel încât condițiile de vizualizare (tensiune de accelerare, nivel vacuum, distanța de lucru, curent de probă… etc) precum și detectorii utilizați sa ofere performanțe optime atât ca rezoluție cât și din punct de vedere al contrastului topografic, de material, de cristalinitate sau catodoluminiscență. Evident, utilizatorii experimentați au acces la interfața ce permite modificarea tuturor parametrilor de achiziție.
Rezoluție:
- 1.2 nm @ 30 kV
- 1.6 nm @ 1 kV cu decelerare
- 3 nm @ 1 kV fără decelerare
Dimensiuni maxime probe
- Φ 200 mm / 80 mm H
Tensiuni de accelerare / aterizare: 0.1 – 30 kV
.
Opțional modul decelerare
.
Detectori
- SE
- Multizonal BSE
- low-vacuum SE (VP)
- In-Lens detector
- STEM (transmisie)
- Catodoluminiscență
Analiză elementară și structurală (EDX, WDX, EBSD)
- Oxford Instruments, Bruker, EDAX
Gamă largă de accesorii
- Heating, Cooling, Cryo, 3View, STEM, SECOM, CL, Raman, plasma cleaner, …
Nivele vacuum
- Vacuum înalt
- VP (variable pressure): 10 – 300 Pa, pentru probe neconductoare
Video-cameră color (Camera navigation system)
.
